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一、產(chǎn)品介紹
XF/WDCJ-100L兩廂高低溫沖擊試驗箱廣泛使用于航空航天、電工電子、儀器儀表、材料設(shè)備、零部配件等模擬試件在周圍大氣溫度急劇變化條件下的適應(yīng)性試驗及對電子元器件的安全性測試提供可靠性試驗、產(chǎn)品篩選等，同時可通過此試驗，進行產(chǎn)品的質(zhì)量控制。
二、XF/WDCJ-100L兩廂高低溫沖擊試驗箱技術(shù)參數(shù)
型號 | XF/WDCJ-100L | XF/WDCJ-225L | XF/WDCJ-500L | XF/WDCJ-010L | |
工作室尺寸D×W×H | 450×450×500 | 600×600×600 | 800×800×800 | 1000×1000×1000 | |
外型尺寸D×W×H | 1560×870×1545 | 1710×1020×1845 | 1910×1220×2265 | 2110×1420×2665 | |
樣品區(qū)尺寸D×W×H | 250×250×250 | 400×400×450 | 600×600×600 | 800×800×750 | |
功率（KW）A/B/C | 13/15/17 | 15/17/18 | 18/21/21 | 20/24/27 | |
性能 | 溫度范圍 | A:-20℃～200℃ B:-40℃～200℃C:-60℃～200℃ | |||
溫度波動 | 高溫室及低溫室均±2℃ | ||||
樣品區(qū)溫度波動 | ±0.5℃（恒溫時） | ||||
樣品區(qū)承重 | 30kg | 30kg | 50kg | 60kg | |
溫濕度運行控制系統(tǒng) | 控制器 | 進口LED數(shù)顯（P·I·D +S·S·R）微電腦集成控制器 | |||
精度范圍 | 設(shè)定精度：溫度0.1℃，指示精度：溫度0.1℃，解析度：0.1℃ | ||||
制冷系統(tǒng) | 進口德國谷輪半封閉水冷式壓縮機組/原裝法國“泰康"/全封閉風冷復迭壓縮制冷方式 | ||||
循環(huán)系統(tǒng) | 耐溫低噪音空調(diào)型電機.多葉式離心風輪 | ||||
溫度轉(zhuǎn)換時間 | 從低溫區(qū)到高溫區(qū)或從高溫區(qū)到低溫區(qū)≤15S | ||||
溫度恢復時間 | ≤5min（與溫度恢復條件有關(guān)，既冷卻水溫、暴露溫差、恒溫時間、樣品重量有關(guān)） | ||||
溫度沖擊方法 | 垂直兩箱法(兩箱式冷熱沖擊試驗箱 | ||||
三、兩廂高低溫沖擊試驗箱執(zhí)行滿足標準及試驗方法
GB11158-2008高溫試驗箱技術(shù)條件
GB10589-2008低溫試驗箱技術(shù)條件
GB10592-2008高低溫試驗箱技術(shù)條件（溫度交變）
GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法 試驗A:低溫(IEC60068-2-1:2007)
GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法 試驗B:高溫(IEC60068-2-1:2007)
GB/T2423.22-2002電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法 試驗N:溫度變化(IEC60068-2-14)
GJB150.3A-2009裝備實驗室環(huán)境試驗方法第3部分：高溫試驗GJB150.4A-2009裝備實驗室環(huán)境試驗方法第3部分：低溫試驗GJB150.5-1986溫度沖擊試驗
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